Sn02纳米材料的表征主要是通过透射电子显微镜、扫描电子显微镜、X射线衍射、比表面积法等。

• 用透射电镜可直接观察产物的平均直径和粒径的分布；

• 扫描电镜可观察产物的形貌及尺寸；

• x射线衍射可测定产物的晶粒度。

1、扫描电子显微镜(SEM)：能够直接观察样品表面的结构、形貌、平均直径或粒径的分布，样品制备过程简单，不用切成薄片，样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察，图象的放大范围广，分辨率也比较高，可放大六十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。

2、透射电子显微镜(TEM)：用透射电镜盯观察Sn02纳米材料粒子平均直径或粒径的分布，电镜测试是观察测定颗粒度的绝对方法，因而具有可靠性和直观性，以高能电子穿透样品，根据样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同，经过后面电磁透镜的放大后，在荧光屏上显示出图像。

3、xRD：电镜观察法测量得到的是颗粒度而不足晶粒度，x射线衍射线宽法是测定颗粒晶粒度的方法。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度，颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度，这种测量方法只适用晶态的纳米粒子颗粒度的评估。该法可以鉴定物质晶相的尺寸和大小，并根据特征峰的位置鉴定样品的物相，检测纯度及结构，再用谢乐公式计算晶粒尺寸。

纯SnO2属于四方晶系，金红石结构。单位晶胞有6个原子，其中2个Sn原子，4个O原子，如下图所示。每个Sn原子位于6个O原子组成的近似八面体的中心，而每个 O原子也位于3个Sn原子组成的等边三角形的中心，形成6：3的配位结构。